CN/EN

SEMICON & OPTO半导体设备

半导体设备

晶圆/芯片测试

ficonTEC T1200 晶圆测试设备

适应612英寸晶圆

可测试IL/PDL/RF/DC

晶圆级测试

光栅耦合/边耦合测试

快速耦合 (<1s)

超高耦合重复性 (<0.1dB)

设备尺寸: 1200X1200X2000